Om een holistische kijk op de verschillende vervaardigingswerkwijzen voor perovskiet films te verkrijgen, is het belangrijk om structurele, elektronische en inrichting karakterisering combineren. Scanning elektronenmicroscopie (SEM) geeft een goede indruk van de morfologie. Daarom zijn alle films geproduceerd door de verschillende vervaardigingswerkwijzen onderzocht. Een representatieve deelverzameling perovskiet dunne films wordt getoond in figuur 1, waarbij de invloed van de bereidingswijze op de filmmorfologie visualiseert.
Idealiter is een vlotte en pin-hole gratis film gewenst voor apparaten. Zoals te zien is, is dit het geval voor de opgedampte films (f, g), de dip coating die (d, e) en de folies bereid uit co-oplossing met het additief NH4CI en tolueen atmosfeer (a1 A5) met een variërende verhouding R van pBI 2 tot MAI van 0,6-1,4. Daarentegen films witho ut additief (h), evenals de dip-coating (d, e) en drop-omhulde pralines (b, c) tonen grote holtes, naaldachtige structuren of grote oppervlakteruwheid en zijn derhalve niet bruikbaar voor toestel toepassingen.

Figuur 1: SEM afbeeldingen perovskiet films bereid met de verschillende verwerkingsmethoden. (A1 - A5) Co-oplossing met een additief en tolueen sfeer met verschillende verhouding van PBI 2 tot MAI (R), (b) drop-coating met 40 s laadtijd, (c) drop-coating met 120 s laadtijd, ( d) dip coating (10 s laadtijd), (e) dip coating (3600 s laadtijd), (f) co-verdamping (g) sequentieel verdamping, (h) co-oplossing zonder additief. De schaalbalken geven een lengte van 1 pm.tp_upload / 55084 / 55084fig1large.jpg "target =" _ blank "> Klik hier om een grotere versie van deze figuur te bekijken.
Tot slot, Figuur 1 a1-a5 tonen variaties in de mengverhouding R van PBI 2 tot MAI 0,6-1,4 met behulp van de voorbereiding co-oplossing met een additief en tolueen sfeer. De variaties in oppervlak dekking en kristal grootte laten zien dat hier ook andere film morfologie verschijnen.
Hoewel SEM is een goed hulpmiddel om de morfologie en de dekking van dunne films te visualiseren en om een indruk op film ruwheid te krijgen, is echter geen structurele informatie gegeven.
Teneinde verder te karakteriseren perovskiet films, röntgendiffractie (XRD) werd toegepast. Met behulp van een Cu K deze techniek α anode (λ = 1,54056 Â) kristallijne fasen in het traject tussen 10 2θ 6; en 40 ° (stapgrootte van 0,00836 °) werden gecontroleerd en gekarakteriseerd. In vele publicaties XRD wordt gebruikt om de kwaliteit van perovskiet films te bepalen.
Figuur 2 toont XRD metingen van een subset van monsters met zes verschillende mengverhoudingen van pBI 2 tot MAI, en derhalve overeenkomt met de SEM-afbeeldingen in Figuur 1A1-a5. Bovendien is het spectrum van pure pBI 2 getoond. Hieruit de invloed van stoichiometrie in de precursor oplossing op de kwaliteit van het perovskiet lagen, zoals bijvoorbeeld het uiterlijk van verschillende fasen, dwz integratie nevenfasen van pBI 2 en MAI, onderzocht. De spectra tonen een tetragonale kristalstructuur, en de reflecties worden geïndexeerd met hun corresponderende kristalvlakken. Verrassenderwijs geen extra fasen van MAI of pBI 2 waargenomen in de off-stoïchiometrische films.
nt ">
Figuur 2: röntgendiffractiepatroon zuivere pBI 2 en perovskiet monsters bereid door het co-oplossingsmethode (met NH4Cl en tolueen atmosfeer) onder toepassing van verschillende molaire verhoudingen van de precursors (verhoudingen van de getallen aan de rechterkant). Voor de vergelijkbaarheid zijn de curves genormaliseerd om de piek bij 14,11 ° en verticaal verschoven. Met toestemming overgenomen uit referentie
16. Copyright 2015 Wiley-VCH.
Klik hier om een grotere versie van deze figuur te bekijken. Als XRD geen gegevens over de samenstelling van de film heeft verstrekt, is X-ray foto-elektron spectroscopie (XPS) gebruikt, dat in staat is direct te meten film stoichiometrie. Voor deze meting een Mg K α excitatiebron (hv = 1252,6 eV) Met een pas energie van 10 eV (Energie resolutie = 800 MeV) wordt gebruikt. De relatieve sensitiviteit factoren (RSF) moet rekening worden gehouden met voor elk afzonderlijk gemeten element. Als zodanig is het belangrijk om de RSFs onze meetsysteem (Mg K α bron hoek tussen röntgenbron en analyzer 50,0 °) te kalibreren. We gebruikten een aantal kleine moleculen jodium piek met tris (4-iodphenyl) -amine (C 18 H 12 I 3 N) kalibreren en gekalibreerd Pb via PBI 2. Koolstof wordt gebruikt als referentie, heeft als zodanig een RSF (C1s) = 1, dus de RSF factoren voor de afzonderlijke elementen; RSF (N1S) = 1,8, RSF (i3d 5/2) = 32,8, en RSF (Pb4f 7/2) = 16,5.
Figuur 3 toont een representatief XPS spectrum van een damp-afgezette film, met de kenmerkende kernniveau pieken aangegeven bovenste sub-cijfer. In de lagere deelfiguren i3D 02/05 (619,6 eV), N1S (402,7 eV), C1s (286.6eV), en Pb4f 02/07 (138,6 eV) pieken worden getoond. Alle signalen kunnen worden aangebracht door één gemengde Gausse / Lorentz piek alleen in het geval van een kleine jodium functie bij hogere bindingsenergie wordt kenmerkend waargenomen die echter een schokgolf piek- en derhalve niet met betrekking tot een werkelijke extra binding staat. Wij kunnen de relatieve Filmsamenstelling allemaal bereid perovskiet lagen extraheren door integratie via signaalintensiteit en normaliseren door hun RSF 16. In sommige films werden grote afwijkingen gevonden van het ideale film stoichiometrie C: N: Pb: I 1: 1: 1: 3; bijvoorbeeld de voorsprong naar stikstof verhouding varieerde tussen 0,4 een d 1.5. Dit geldt in het bijzonder voor de opgedampte films, waarbij de co-verdamping moeilijk te controleren en te reproduceren. Voor de oplossing verwerkte monsters, anderzijds, de actuele en beoogde mengverhoudingen van de precursor erg goed met de uiteindelijke film samenstelling zoals bepaaldvan XPS.

Figuur 3: Representatieve XPS spectra. Boven een volledige XPS-scan wordt getoond, onder de close-up XPS metingen van de geïntegreerde pieken worden getoond. Klik hier om een grotere versie van deze figuur te bekijken.
Om te onderzoeken hoe deze variaties in de film samenstelling van invloed op de dichtheid van de staten, draaide we aan UV-foto-elektron spectroscopie (UPS). UPS metingen, een ontladingslamp helium (He I bij 21,22 eV, monster vertekening -8 V) wordt gebruikt, met een 2 eV pas energie en een energieresolutie 110 meV (bepaald door de Fermi randbreedte). Voor alle monsters werd een volledig spectrum eerst gemeten en vervolgens met een hogere analyzer diafragma op de signaal-ruisverhouding te verhogen, een gedetailleerd hogere resolutie scan van regio VB uitgevoerd. In het UPS-spectra bijzonder de VB regio scan werden satelliet pieken als gevolg van de polychromatische straling Hij I numerieke gecorrigeerd tijdens gegevensanalyse.
Figuur 4 toont UPS krommen van de volledige dataset van alle onderzochte monsters, die zowel co-verdamping en sequentiële (licht rood) en de andere oplossing verwerking (donkerrood) gedefinieerd. We willen alleen maar benadrukken dat aanzienlijke verschillen in de ionisatie energieën (IE) worden waargenomen, opmerkelijke van de variaties van de hoge binding energie cutoff positie in de linker grafiek van figuur 4. Deze veranderingen worden veroorzaakt door variaties in de verwerking en film samenstelling en leiden tot een tunability van IE tussen 5,67 en 6,4 eV. Voor een meer gedetailleerde bespreking, zie referentie 16.
jpg "/>
Figuur 4: UPS scans van een representatief deel van de onderzochte monsters. De linker panelen tonen de hoge binding energie cutoff (HBEC) en de valentieband regio, terwijl de rechterzijde toont de hoge resolutie close-up van het VB onset voor opgedampt (licht rode lijnen) en oplossingsgericht verwerkt (donkerrood lijnen) perovskiet films. Alle krommen zijn verschoven langs de x-as teneinde te worden aangepast aan de functie op ongeveer 3 eV. Met toestemming overgenomen uit referentie 16. Copyright 2015 Wiley-VCH. Klik hier om een grotere versie van deze figuur te bekijken.
Als we onze eerdere experimenten dat films bereid uit verschillende precursor mengverhoudingen Perovskite leiden tot verschillen in elektronische structuur zonder verstoring van de kristalstructuur van de film leerden we wildenhet effect van voorloperverhouding op de zonnecel prestaties te onderzoeken. Daarom ITO / PEDOT: PSS werden / perofskiet / PC 60 BM / Al zonnecellen met behulp van co-oplossing verwerkt perovskiet lagen (met additief en tolueen sfeer) met behulp van verhoudingen van PBI 2 tot MAI 0,7-1,2. Figuur 5 toont het effect van film stoichiometrie (beoogde verhouding R) op de zonnecel kenmerken energieconversie-efficiëntie (PCE), kortsluitstroom (J SC), open circuit voltage (VOC) en vullinggraad (FF). Het hoogste rendement van 9,6% wordt gevonden voor een voorgenomen molverhouding van 1,02, dat wil zeggen dicht bij de ideale perovskiet samenstelling.

Figuur 5: Karakteristieke waarden van PCE, J SC, V OC en FF. Deze waarden werden uit de metingen van de zonnecel inrichtingen independent van de beoogde mengverhouding R int pBI van 2 tot MAI voor de bereiding film. Met toestemming overgenomen uit referentie 16. Copyright 2015 Wiley-VCH. Klik hier om een grotere versie van deze figuur te bekijken.